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工业和制造业

集成电路及电子元器件测试

填加耗时:2018-12-03 20:16:26

物(化) 性失效分析 PFA 

Decap 开口Bare Die Extraction 取晶体De-layer/De-process 去层局解Staining-Rom Code 码点染色法Staining-P/N 阱复染Staining-Resistor zone 功率电阻复染De-Gold Bump 去金凸块 

金相分析 

江南JNSport体育JNSport体育机械指定及非指定机磨制样 / 金相切成片显宏观察探讨(Lieca DM8000红外光谱干涉仪150X、Hitachi S4800 冷场导弹电镜+ EDS)        

电性失效分析 EFA 

EMMI 微光显微检修LC Hot Spot 液晶显示器焦点侦测OBIRCH 镭射散射产生阻值转化软件测试Probe Station 电极APP   

FIB聚焦离子束应用

微层面改进测试软件键形成Cross-SectionVC江南JNSport体育JNSport体育铸造切及生产加工 

无损侦测 

X-Ray + 3D CT(三维空间断块扫锚高技术)C-SAM 打印超音波波 

芯片逆向工程及工艺评估

成功的 的单向设置都要及时不断更新某个设置思维  ,改正设置缺陷报告 。 正向设置成为一些协助APP  ,行的鼓励电源电路设置过程师在暂时性间里沉淀非常多的设置临床经验并设定的规划更适合自设置水准的制作工艺性能参数  ,有较高的效率避开危害性、延长较高的效率 。 也可的鼓励设置品牌完善的产品的的能力素质  ,即为保养随时升级的产品的生活常识房屋产权供应有较高的效率电子证据 。  

静电放电/闩锁效应测试 

ESD-HBM 躯干基本模式ESD-MM 机器人击穿方法ESD-CDM 专研元元器方法Latch-Up 闩锁反应检验 

材料分析

AES 俄歇电子设备能谱仪选用AFM 分子力体视显微镜广泛应用EELS 智能电能失去数据分析仪器选用FT-IR 傅立叶红外显微镜观察操作              SEM/EDS 测试电子设备高倍显微镜/X放射线能谱仪利用SIMS 再次阳离子能谱仪(特别定时/非定时制样、重元素剖析)TEM 散发出电镜(指定/非指定制样及上机观察植物)TOF-SIMS 航空用时首次阳离子质谱用途XPS X电子束光电公司子能谱仪使用 

可靠性测试

冗余条件靠普性测验…最新自然江南JNSport体育牢靠性试验报告…机械制造承载力靠得住性试验检测…高加速度壽命耐压…
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